边界扫描论文

论文摘要随着电子技术的发展,电子设备的功能越来越多、内部的逻辑结构越来越复杂,使得电子设备出现故障的概率增大、测试难度增强。因此,对电子设备的测试和故障诊断提出了新的要求。电子...

论文摘要随着集成电路和印制电路板技术的发展,电子设备的集成度越来越高,传统方法已经渐渐难以实现对高集成度电路板的访问,如进行互连测试和对板上器件进行编程等等。为解决这一问题,国...

论文摘要随着信息技术的飞速发展,人们对于工业产品的需求也在日新月异的变化之中,于是加快产品的更新换代成为了设计人员在产品研发过程中急需考虑的重要因素。本设计就是为64层CT提供...

论文摘要在集成电路高速发展的今天,许多传统形式的测试技术受到越来越多的挑战。就测试技术本身而言,其作用和地位不再是集成电路生产的末端环节,而是作为一种前端环节对整个系统的设计都...

论文摘要近年来，随着电子技术飞速发展，芯片集成度越来越高，封装技术也得到了广泛的应用，使得可供测试的物理引脚越来越少，传统的探针等测试方法远远不能满足现代复杂电路的测试需求。人...

论文摘要早期的集成电路测试主要通过功能测试向量来完成,但随着系统复杂度的不断提高和工艺技术的日益发展,芯片测试的复杂度远远超出了人们的想象。芯片的测试问题成为制约整个行业发展的...

论文摘要随着印制电路板功能日益增强,结构日趋复杂,传统的测试方法已经很难满足现在的测试需要。边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连...

论文摘要航空发动机数控系统正在向更高性能和更高集成度的方向发展,增加了电子控制器核心电路的开发、制造与测试的复杂性。控制器核心电路密度的不断提高,使得传统测试方法难以满足需要。...

论文摘要边界扫描技术作为一种标准的数字电路测试及可测试性设计方法,它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性。随着边界扫描芯片在电...

论文摘要片上系统集成电路芯片在工作时只是部分芯片模块处于工作状态,芯片引脚可以通过复用以达到充分利用有限的接口资源,从而最大限度地提升芯片工作效率。片上系统的端口控制逻辑为实现...

论文摘要本论文研究内容是国家某预研课题的一部分，目的是研究RISC微处理器的体系结构和方法，设计兼容于PowerPC指令集的32位嵌入式微处理器。做为一款百万门级的处理器“龙腾...

论文摘要随着半导体工艺水平的提高，芯片的规模及复杂度异常庞大，其内部节点的机械可探测性大大降低，甚至不可能。这使得调试及测试的难度也大大增强，因此必须在设计中增加可调试性设计。...

论文摘要JX5微处理器是一款结构异常复杂的微处理器,它的内部包含有:Cache、微码ROM、指令预取部件和动态分支预测部件、指令译码部件、整数部件、多媒体部件、浮点部件、分段和...