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    论文摘要经过40多年的发展,集成电路工艺发展到深亚微米和超深亚微米阶段,给高性能微处理器的发展带来了很多困难和挑战。二维集成技术的功耗问题、访存问题、片上互连问题,制约着高性能...
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    论文摘要电子设备的热设计一直是影响系统可靠性的重要因素。随着微机电系统制造工艺的成熟,电子产品的微型化速度加快,集成度越来越高。而产品的功耗却比以前更大,使得电子设备的热流密度...