退化轨迹论文

本文主要研究内容作者解传宁（2019）在《数控电路板性能退化分析及可靠性统计推断研究》一文中研究指出：针对长寿命产品很难通过寿命试验和加速寿命试验获得充足的失效寿命数据的情况,...