本文主要研究内容
作者解传宁（2019）在《数控电路板性能退化分析及可靠性统计推断研究》一文中研究指出：针对长寿命产品很难通过寿命试验和加速寿命试验获得充足的失效寿命数据的情况,以某型号的国产数控用印制电路板为试验对象,在高温高湿条件下开展了偏置电压性能退化试验.通过探讨其主要的故障模式和失效机理,建立了数控用电路板的电压应力退化失效模型,然后在对性能退化数据的统计分析研究的基础上,提出了基于退化轨迹的可靠性评估方法,并对高可靠性长寿命的数控用印制电路板进行了可靠性统计推断.最后给出了威布尔分布下的可靠性统计推断结果,验证了方法的正确性和有效性.
Abstract
zhen dui chang shou ming chan pin hen nan tong guo shou ming shi yan he jia su shou ming shi yan huo de chong zu de shi xiao shou ming shu ju de qing kuang ,yi mou xing hao de guo chan shu kong yong yin zhi dian lu ban wei shi yan dui xiang ,zai gao wen gao shi tiao jian xia kai zhan le pian zhi dian ya xing neng tui hua shi yan .tong guo tan tao ji zhu yao de gu zhang mo shi he shi xiao ji li ,jian li le shu kong yong dian lu ban de dian ya ying li tui hua shi xiao mo xing ,ran hou zai dui xing neng tui hua shu ju de tong ji fen xi yan jiu de ji chu shang ,di chu le ji yu tui hua gui ji de ke kao xing ping gu fang fa ,bing dui gao ke kao xing chang shou ming de shu kong yong yin zhi dian lu ban jin hang le ke kao xing tong ji tui duan .zui hou gei chu le wei bu er fen bu xia de ke kao xing tong ji tui duan jie guo ,yan zheng le fang fa de zheng que xing he you xiao xing .
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自烟台大学学报(自然科学与工程版)的解传宁，发表于刊物烟台大学学报(自然科学与工程版)2019年03期论文，是一篇关于性能退化论文,可靠性推断论文,数控电路板论文,退化轨迹论文,烟台大学学报(自然科学与工程版)2019年03期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自烟台大学学报(自然科学与工程版)2019年03期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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