图形检测论文

掩膜版雾状缺陷改善与光刻良率提升
论文摘要在半导体业大尺寸、细线宽、高精度、高效率、低成本的要求下,如何有效降低掩膜版的雾状缺陷产生的频率,以提高产品良率是半导体业界重大的挑战之一,特别是在光刻波长进入到193...
卫星舱布局的若干图形学问题研究
论文摘要卫星舱布局设计问题属于NP-Hard或NP-Complete问题,它既存在计算复杂性又具有工程复杂性,求解困难,达到工程应用要求更难。卫星舱布局设计属于卫星总体布局设计...