磁控溅射法制备的Al-Mg-B薄膜的研究

磁控溅射法制备的Al-Mg-B薄膜的研究

论文摘要

铝镁硼(AlMgB14)作为一种新型超硬纳米材料,以其优异的机械、热学和电学性能有着广泛的应用前景。铝镁硼(Al-Mg-B)薄膜的元素成分、表面形貌、内部结构等对其机械、热学和电学性能的影响十分明显。因此研究沉积参数和掺杂对Al-Mg-B薄膜的内部结构和表面特性的影响有重要的意义。本文采用磁控溅射的方法制备了Al-Mg-B薄膜。研究了基片温度、硼溅射功率、靶材组成、偏压及其掺杂对Al-Mg-B薄膜的元素含量、成键性质、表面形貌及其力学性能的影响。采用电子探针显微分析(EPMA)、原子力显微镜(AFM)、X射线衍射(XRD)、傅立叶红外光谱(FTIR)、纳米压痕等对薄膜进行了表征。工作主要内容如下:(1)在不同的沉积温度和硼溅射功率下,采用磁控溅射法成功制备了Al-Mg-B薄膜。结果表明,由于受到基片温度和硼溅射功率的影响,Al-Mg-B薄膜的硬度随着B含量的升高而增加。Al-Mg-B薄膜的最大硬度约为31 GPa,其硼含量为65 at.%。Al-Mg-B薄膜的表面很光滑。随着基片温度和硼溅射功率的增加,薄膜的表面粗糙度变小。最好的表面粗糙度达到约0.5 nm,摩擦系数可达到0.05,同时这个薄膜的硬度也最高。在沉积Al-Mg-B薄膜过程中,沉积温度和硼溅射功率扮演重要的角色,因为它们大大影响了薄膜中硼的含量。(2)采用磁控溅射方法,改变AlMg复合靶的比率,成功制备出Al-Mg-B薄膜。结果表明,非晶薄膜的成分接近于AlMgB14晶体的原子含量,表面非常平滑。通过改变AlMg复合靶的比率在一定程度上对Al-Mg-B薄膜的性能有所改善:当AlMg复合靶的Al:Mg比值接近于1时,制备的薄膜具有更高的硬度,表面更平滑,摩擦系数最低。因此AlMg复合靶对制备不同性能的Al-Mg-B薄膜有重要影响。(3)在不同的偏压下,利用高真空的磁控溅射设备在Si(100)上制备Al-Mg-B薄膜。结果表明,在600℃下沉积的薄膜成分是均匀的,并且改变偏压对薄膜化学组成基本没有影响;适当地偏压有助于Al-Mg-B薄膜中B12二十面体的形成,从而导致薄膜的硬度的升高,最高可达到30.7 GPa。(4)分别以铬、钛、氮为掺杂物,通过磁控溅射法采用两靶共溅射制备了掺杂Al-Mg-B薄膜。结果表明,Cr、Ti和N都分别充分地进入薄膜中;Al-Mg-B薄膜中掺入Cr元素对薄膜的B12的生长有一定的抑制作用,从而降低了薄膜的硬度;掺入N的薄膜中化学键态主要是sp2型B-N键,从而导致掺N的薄膜硬度仅仅为2 GPa;掺入Ti的薄膜的硬度只有9 GPa,可能主要是由B-O键导致的。总之,掺杂的Al-Mg-B薄膜的性能存在明显的差异,为其后续的研究打下良好基础。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 1 绪论
  • 1.1 研究目的及意义
  • 14晶体结构'>1.2 AlMgB14晶体结构
  • 14基本性质'>1.3 AlMgB14基本性质
  • 1.3.1 力学性能
  • 1.3.2 膨胀系数
  • 1.3.3 电学性能
  • 1.3.4 其他性质
  • 1.4 本文的选题和主要研究内容
  • 2 Al-Mg-B薄膜的主要的制备方法和表征方法
  • 2.1 Al-Mg-B薄膜的主要制备方法
  • 2.1.1 脉冲激光沉积法(PLD)
  • 2.1.2 磁控溅射法
  • 2.2 Al-Mg-B薄膜的主要表征方法
  • 2.2.1 电子探针显微分析(EPMA)
  • 2.2.2 原子力显微镜(AFM)
  • 2.2.3 傅立叶变换红外光谱(FTIR)
  • 2.2.4 纳米压痕技术
  • 3 磁控溅射系统制备Al-Mg-B薄膜的设备与工艺
  • 3.1 JEPG450型高真空射频磁控溅射系统简介
  • 3.2 Al-Mg-B薄膜的制备工艺
  • 3.2.1 基片的选择与处理
  • 3.2.2 靶材的选择和溅射靶材的制作
  • 3.2.3 Al-Mg-B薄膜的具体沉积参数
  • 4 改变基片温度和硼溅射功率,Al-Mg-B薄膜的制备与表征
  • 4.1 Al-Mg-B薄膜制备方法
  • 4.2 电子探针(EPMA)结果分析
  • 4.3 X射线衍射(XRD)结果分析
  • 4.4 傅里叶红外光谱(FTIR)结果分析
  • 4.5 原子力显微(AFM)结果分析
  • 4.6 纳米压痕结果分析
  • 4.7 摩擦磨损试验结果分析
  • 4.8 本章小结
  • 5 不同靶材对Al-Mg-B非晶薄膜的影响
  • 5.1 Al-Mg-B薄膜制备方法
  • 5.2 电子探针(EPMA)结果分析
  • 5.3 原子力显微(AFM)结果分析
  • 5.4 纳米压痕结果分析
  • 5.5 摩擦磨损试验结果分析
  • 5.6 本章小结
  • 6 偏压对Al-Mg-B非晶薄膜的影响
  • 6.1 Al-Mg-B薄膜制备方法及其表征
  • 6.2 电子探针(EPMA)结果分析
  • 6.3 傅里叶红外光谱(FTIR)结果分析
  • 6.4 纳米压痕结果分析
  • 6.5 本章小结
  • 7 掺杂对Al-Mg-B非晶薄膜的影响
  • 7.1 掺杂Al-Mg-B薄膜制备方法及其表征
  • 7.2 电子探针(EPMA)结果分析
  • 7.3 傅里叶红外光谱(FTIR)结果分析
  • 7.4 纳米压痕结果分析
  • 7.5 本章小结
  • 结论
  • 参考文献
  • 攻读硕士学位期间发表学术论文情况
  • 致谢
  • 相关论文文献

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