基于自组装法制备二氧化钛薄膜及其在紫外探测中的应用

基于自组装法制备二氧化钛薄膜及其在紫外探测中的应用

论文摘要

本论文的主要工作包括自组装法制备纳米TiO2薄膜以及验证和探讨基于自组装法制备的TiO2纳米薄膜作为光伏型MSM结构紫外探测器基体材料的可能性,利用薄膜研制紫外探测器的原型器件,并进一步分析器件的性能指标。首先利用自组装法制备了TiO2薄膜材料,并采用各种表征手段对薄膜材料的性质进行了表征:利用X光衍射分析方法对所制备的TiO2薄膜结构进行分析可知,TiO2已经在石英玻璃衬底表面结晶,在25.3°处,存在一个尖锐的主峰,对应于锐钛矿相TiO2的主峰,这说明已经我们利用自组装法制备的TiO2薄膜为很好的锐钛矿晶型。通过紫外-可见光谱分析,可知用自组装法在石英玻璃衬底上生长的TiO2薄膜在310nm附近有一个陡峭的吸收边,证明了这种方法制备的TiO2薄膜在紫外光范围内有良好的吸收能力。由SEM图可以直观的看到,TiO2薄膜表面均匀致密,质量非常好,适合制作紫外探测器的半导体基体薄膜。由XPS能谱分析,发现自组装法制备的TiO2薄膜的钛氧比为1:1.84,晶格氧含量比溶胶凝胶法制备得到的TiO2薄膜(钛氧比为1:1.24)提高了38.6%,这意味自组装法制备的薄膜氧缺陷更少,晶体更完整,成膜质量更优。制作基于自组装法在石英衬底上生长TiO2薄膜的紫外探测器。该器件的电极长度为2毫米,电极间的叉指宽度仅为20微米,叉指间距同样也仅为20微米,该器件的有效电极面积为0.38mm2。并对器件的光电特性进行了测试,由器件的I-V特性曲线可知,Au与TiO2形成肖特基接触。由器件的光响应可知,当入射波长为400nm到350nm时,光响应曲线基本水平;从350nm开始,器件的光响应迅速增加,在310nm处形成陡峭的吸收边,与薄膜的紫外吸收谱基本相符;在260nm处,器件的响应度达到最大值,约为73.65A/W。对器件的响应时间图分析可知,缺陷较少的薄膜制作的器件响应时间得到很大的改善,上升响应时间约为3.66s,下降响应时间约为4.18s。

论文目录

  • 提要
  • 第一章 前言
  • 1.1 论文的研究背景
  • 1.2 本论文的研究意义和主要内容
  • 2薄膜的制备与表征'>第二章 TiO2薄膜的制备与表征
  • 2的晶体结构'>2.1 TiO2的晶体结构
  • 2.1.1 锐钛矿(Anatase)
  • 2.1.2 金红石(Rutile)
  • 2.1.3 板钛矿(Brookite)
  • 2的用途'>2.2 纳米TiO2的用途
  • 2.2.1 紫外吸收特性
  • 2.2.2 光催化特性
  • 2.2.3 气敏湿敏特性
  • 2.2.4 光电特性
  • 2的制备方法'>2.3 纳米TiO2的制备方法
  • 2.3.1 液相沉积法
  • 2.3.2 溶胶-凝胶法
  • 2.3.3 化学气相沉积法
  • 2.3.4 水热法
  • 2.3.5 自组装法
  • 2薄膜的制备'>2.4 TiO2薄膜的制备
  • 2.4.1 化学药品
  • 2.4.2 仪器设备
  • 2薄膜的制备原理'>2.4.3 TiO2薄膜的制备原理
  • 2薄膜的制备过程'>2.4.4 TiO2薄膜的制备过程
  • 2薄膜的表征'>2.5 TiO2薄膜的表征
  • 2.5.1 X-射线衍射分析(XRD)
  • 2.5.2 紫外-可见光谱分析(UV-vis)
  • 2.5.3 扫描电镜分析(SEM)
  • 2.5.4 X射线光电子能谱(XPS)
  • 2薄膜在紫外探测中的应用'>第三章 基于自组装法生长的TiO2薄膜在紫外探测中的应用
  • 2应用于紫外探测的优势'>3.1 TiO2应用于紫外探测的优势
  • 3.2 半导体紫外探测器结构的基本类型
  • 3.3 MSM型光伏探测器的结构和工作原理
  • 3.3.1 器件结构
  • 3.3.2 器件的工作原理
  • 2薄膜的紫外探测器的制作'>3.4 基于自组装生长TiO2薄膜的紫外探测器的制作
  • 3.4.1 薄膜生长
  • 3.4.2 光刻电极图形
  • 3.4.3 溅射电极
  • 3.4.4 剥离
  • 2薄膜的紫外探测器的性能测试'>3.5 基于自组装生长TiO2薄膜的紫外探测器的性能测试
  • 3.5.1 器件的I-V特性
  • 3.5.2 器件的光响应
  • 3.5.3 器件的响应时间
  • 第四章 结论
  • 参考文献
  • 致谢
  • 摘要
  • Abstract
  • 相关论文文献

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