笛卡尔距离论文

加权内建自测试（BIST）设计中的多目标优化技术研究
论文摘要随着数字系统的集成度和工艺复杂度的日益提高,数字系统内的器件测试变得越来越困难。由于内建自测试（Built-InSelf-Test,BIST）能在芯片内部完成自测试,使...