高性能北桥芯片中存储器接口的功能验证

论文摘要

随着现代计算机系统的高速发展， CPU与内存之间数据交换速率要求越来越高，CPU与内存之间的速度差异，已经成为制约整个系统性能的瓶颈。使用集成于北桥芯片中的存储器接口，为CPU与内存之间提供数据交换通路，是当前解决这一问题主流方法。本文的研究对象是一款X高性能北桥芯片中存储器接口。论文从验证方法学基础学习出发，介绍了X北桥芯片基本架构，研究了其中存储器接口的相关内容，在充分了解存储器接口相关时序和设计的基础上搭建了验证平台，提取了全面的功能测试点，对其存储器接口的ROM接口，异步DRAM接口，SDARM接口以及检验功能进行了功能验证，并对验证结果进行了分析。验证结果表明，该存储器接口的功能验证方法是可行的，对高性能存储器接口设计和验证工作具有一定的参考价值。

论文目录

摘要

Abstract

第一章绪论

1.1 课题研究背景和意义

1.2 验证技术简介

1.3 课题来源与论文章节安排

第二章验证技术和方法

2.1 验证技术介绍

2.1.1 验证方法

2.1.2 验证层次介绍

2.1.3 观测点细节

2.2 验证周期

2.3 验证技术研究现状

2.4 本章小结

第三章高性能北桥芯片存储器接口

3.1 X 桥片简介

3.2 X 桥片存储器接口

3.2.1 地址通路

3.2.2 数据通路

3.2.3 存储控制接口

3.2.4 检纠错机制

3.3 本章小结

第四章存储器接口功能验证

4.1 功能测试点

4.2 验证流程

4.3 验证平台的搭建

4.4 测试激励的生成

4.5 验证结果分析

4.5.1 ROM 接口基本读操作验证

4.5.2 异步 DRAM 接口基本操作验证

4.5.3 SDRAM 接口基本操作验证

4.5.4 检验功能验证

4.6 本章小结

第五章总结

5.1 论文总结

5.2 进一步工作

致谢

参考文献

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