纳米PZT颗粒的兆赫超声制备及压电力显微研究

纳米PZT颗粒的兆赫超声制备及压电力显微研究

论文摘要

近年来,压电厚膜的研究引起了人们极大的兴趣,与薄膜相比,厚膜的压电、铁电性能较少受界面、表面等影响,同时较大的厚度能产生更大的驱动力,且具有更宽的工作频率,其中又以PZT压电厚膜器件最为突出,这同时对PZT材料的制备提出了更高的要求。目前生产PZT颗粒的方法主要用水热合成法,但是颗粒大小难以达到纳米级。本文提出利用脉冲兆赫超声法对合成的微米级PZT颗粒进行冲击,达到制备纳米级PZT颗粒的目的,并对得到的纳米PZT颗粒进行了压电力显微测量的探索性研究,成功测得其纵向压电系数并完成比较分析。主要研究内容如下:1.从声场角度分析了兆赫超声场能量来源以及指向特性,比较分析了兆赫超声相比于普通超声所具有的优势;设计并制作试验装置,包括夹心式压电换能器,兆赫电源以及整个电路的控制方式。2.对比机械力化学制备法,提出了兆赫超声制备方法的优势,利用兆赫超声试验系统对水热法合成的微米PZT颗粒进行作用,利用扫描电镜、X射线衍射仪等分析手段对制备效果进行检测,结果证明可以制备纳米PZT颗粒。3.介绍了压电力显微镜的测量方法,提出对分散的纳米PZT颗粒探索性地进行了PFM测量,成功得到了单个颗粒的的压电响应图像,计算得到单颗粒的纵向压电系数,并把纳米级和微米级PZT颗粒的纵向压电系数进行比较分析,结果表明兆赫超声制备的纳米PZT颗粒具备压电性能。

论文目录

  • 摘要
  • ABSTRACT
  • 第一章 绪论
  • 1.1 PZT 材料概述
  • 1.2 PZT 纳米颗粒制备的发展现状
  • 1.2.1 固相合成法
  • 1.2.2 液相合成法
  • 1.2.3 常规超微粉碎法
  • 1.3 PZT 材料的压电显微研究发展现状
  • 1.3.1 压电力显微镜的发展
  • 1.3.2 压电力显微镜的架设
  • 1.3.3 压电力显微的主要工作模式
  • 1.4 课题来源及研究意义、创新点和研究内容
  • 1.4.1 研究意义
  • 1.4.2 创新点
  • 1.4.3 研究内容
  • 第二章 兆赫超声场特性及试验系统
  • 2.1 引言
  • 2.2 超声波声场理论基础
  • 2.2.1 描述超声场的物理量
  • 2.2.2 声压分布
  • 2.3 兆赫超声波声场特性
  • 2.3.1 普通超声场的缺点
  • 2.3.2 兆赫超声场优势
  • 2.4 兆赫超声换能器设计
  • 2.4.1 声源的选择
  • 2.4.2 兆赫超声换能器性能指标
  • 2.4.3 单元兆赫超声发生器设计
  • 2.4.4 单元兆赫超声换能器结构设计
  • 2.5 兆赫超声激励电源制作
  • 2.5.1 兆赫电源基本原理
  • 2.5.2 电源总体设计
  • 2.5.3 信号发生部分
  • 2.5.4 高频逆变电路部分
  • 2.5.5 控制方式
  • 2.6 本章小结
  • 第三章 兆赫超声法制备 PZT 纳米颗粒
  • 3.1 引言
  • 3.2 PZT 纳米粉体材料应用前景
  • 3.2.1 PZT 纳米材料应用
  • 3.2.2 PZT 材料前景
  • 3.3 PZT 纳米颗粒制备方案
  • 3.3.1 机械力化学制备方法
  • 3.3.2 兆赫超声法制备
  • 3.4 材料与仪器
  • 3.5 试验结果与讨论
  • 3.5.1 颗粒的制备与分散
  • 3.5.2 兆赫超声处理时间的影响
  • 3.5.3 XRD 分析
  • 3.6 本章小结
  • 第四章 PZT 纳米颗粒的压电力显微研究
  • 4.1 引言
  • 4.2 压电力显微镜测量方法
  • 4.2.1 逆压电效应
  • 4.2.2 测量原理
  • 4.3 PZT 颗粒的 PFM 测量
  • 4.3.1 试验准备
  • 4.3.2 试样制作
  • 4.3.3 PFM 测量过程
  • 4.4 结果与讨论
  • 4.4.1 对单个颗粒的检测分析
  • 4.4.2 比较分析
  • 4.5 本章小结
  • 第五章 研究总结与展望
  • 5.1 论文主要完成的工作
  • 5.2 后续工作展望
  • 参考文献
  • 致谢
  • 攻读项士学位期间发表的学术论文
  • 相关论文文献

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