MicroSD存储器测试方法研究

论文摘要

Flash存储器发展到今天,容量速度都在飞速的提高,并为了追求更好的性能衍生出了各种各样的单元结构。我们需要研究如何针对一个Flash产品进行迅速有效的测试。在本文中,我们首先回顾了Flash的发展历程,对如今Flash的现状有了一个初步的了解。然后我们以SanDisk公司的MicroSD单元结构为研究对象,通过与传统单元的对比,充分了解该单元结构的优点并分析了其故障模型。接着,我们开始对采用了这种单元结构的产品MicroSD进行了介绍并准备对其进行测试。了解了其产品功能特性后,我们结合MicroSD的故障模型,详细研究了其测试原理和方法。最后制定出了完整的测试流程,对该产品进行了测试并予以总结。本论文主要有以下两个特点:1.结合生产实践中的失效机理确定测试方法;2.本文的测试方法和程序已经用于正常生产,并得到比较好的结果。

论文目录

• 摘要
• Abstract
• 第一章 前言
• 第二章 闪速存储器发展及现状
• 第三章 操作原理
• 3.1 读操作
• 3.2 擦除操作
• 3.3 编程操作
• 第四章 MicroSD产品特性
• 4.1 产品概述
• 4.2 MicroSD结构及总线电路
• 第五章 测试项目与规格的确定
• 5.1 产品测试的流程简介
• 5.2 规格控制
• 5.3 测试种类及方法
• 第六章 测试程序编写流程表
• 第七章 测试结果及总结
• 7.1 测试仪器简介
• 7.2 这是一个产品的测试报告
• 参考文献
• 后记