RFID芯片在ATE上测试解决方案的研究

论文摘要

RFID芯片被广泛应用于诸如工业自动化、商业自动化、交通运输控制管理等众多领域,由于它比较特殊工作原理和信号传送方式,针对该芯片的测试,尤其是大规模的量产测试一直还没有很好的方法。本文将讨论一种针对RFID芯片的低成本测试解决方案,该方案只需要ATE具有一般的数字电路的测试功能,结合RFID测试应用模块,就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现对芯片的所有工程/量产测试需求。该解决方案最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本,测试时间很短,并且有很好的灵活性和通用性。

论文目录

• 摘要
• ABSTRACT
• 1 研究对象-RFID 芯片及其测试要求
• 1.1 RFID 技术的应用现状和研究意义
• 1.1.1 RFID 系统介绍
• 1.1.2 RFID 技术优势和应用现状
• 1.1.3 研究意义
• 1.2 RFID 芯片和测试要求
• 1.2.1 芯片的工作原理
• 1.2.2 芯片的分类和ISO 标准
• 1.2.3 测试要求和技术难点
• 1.3 研究目标和任务
• 1.3.1 ISO 国际规范以及向量文件的生成方式
• 1.3.2 RF 功能测试要求和实现方法
• 1.3.3 芯片内部微小电容（调谐电容）的工程/量产测试实现
• 1.3.4 提高芯片量产的良品率，解决同测时的串扰和非同步问题
• 2 整体解决方案
• 2.1 全体测试项目
• 2.2 RF 测试模块
• 2.2.1 功能概要
• 2.2.2 模块方块图
• 2.2.3 RF 信号发生部分
• 2.2.4 RF 信号接收/识别部分
• 2.2.5 精度矫正
• 2.2.6 诊断
• 2.2.7 模块式样及小结
• 2.3 调谐电容测试的设计方案
• 2.3.1 工程测试的解决方案
• 2.3.2 生产测试的解决方案
• 2.4 整体解决方案
• 3 工程测试实例
• 3.1 芯片式样
• 3.1.1 工程封装及各管脚定义
• 3.1.2 测试任务及方案
• 3.2 测试项目详细及测试结果
• 3.2.1 调谐电容
• 3.2.2 片内电源（VDDI）和参考电压（VREF）精度
• 3.2.3 信号频率特性
• 3.2.4 上电复位信号（PowerOnReset）
• 3.2.5 时钟测量（CLK）
• 3.2.6 功能指令测试（REQB）/载波调制（ASK）系数
• 3.2.7 负载调制（BPSK）调制深度
• 3.2.8 小结和问题点
• 4 量产测试实例
• 4.1 测试对象
• 4.1.1 测试任务
• 4.1.2 整体解决方案
• 4.2 测试项目详细及测试结果
• 4.2.1 RC 电路测试法原理
• 4.2.2 RC 电路测试法实验结果及分析
• 4.2.3 RF 功能测试的同测扩展
• 4.3 测试时间的测试效率问题
• 5 总结
• 5.1 获得的成果
• 5.2 今后的方向
• 参考文献
• 附录
• 致谢
• 攻读学位期间发表的学术论文