新型SONOS单元NOR闪存设计

新型SONOS单元NOR闪存设计

论文摘要

随着闪存技术的进步,闪存产品的日渐成熟,市场竞争更加激烈,闪存设计越来越向着高性能,高密度,大容量,低功耗,低成本等方向发展。NAND结构闪存由于其低廉的位存储成本而风行于世,多电平技术的出现进一步降低了位存储成本。SONOS单元通过新的物理结构与制程同样实现了2比特/单元的信息存储,作为后起之秀受到各大厂家的重视与青睐。对于SONOS单元结构和机理的研究以及基于SONOS结构的2比特/单元存储器的设计逐渐成为一个热门方向。为了能够使这种单元更好的适应制程的发展,在更小尺寸的产品中保持良好的竞争力,台湾3S公司提出了一种新型SONOS单元。作为使用此单元进行NOR结构闪存设计的尝试,本文将以设计为基础着重介绍SONOS单元的结构和特点,工作条件,以及NOR闪存的设计方法。本文首先介绍了闪存的发展状态和趋势,然后介绍了这种新型单元的结构特点,以及工作模式与工作条件的设定,特别是如何做到2比特/单元。此后介绍了此次设计中,主要电路的设计方法及主要问题的解决。最后简略介绍了版图的设计和测试规划。在设计过程中,也发现这种新型单元在进行NOR闪存设计时有一定的缺陷,我们将在此后的设计中加以改善。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 第一章 绪论
  • 1.1 FLASH 存储器发展状况
  • 1.2 FLASH 存储器的技术分类
  • 1.3 FLASH 存储器产品和技术的发展趋势
  • 1.4 FLASH 存储器单元编程和擦除机制
  • 1.5 课题的主要工作及技术要点
  • 1.6 论文章节构成
  • 第二章 新型SONOS 单元工作条件设定
  • 2.1 新型SONOS 结构闪存单元和阵列简介
  • 2.2 器件的工作机制
  • 2.3 对于编程和读写可靠性的几种影响
  • 2.4 工作条件的确定
  • 2.5 新单元对于设计的几点挑战
  • 第三章 FLASH 存储器电路设计
  • 3.1 电路设计概述
  • 3.2 电路模块设计
  • 3.3 工作模式设计
  • 第四章 版图设计
  • 4.1 阵列与解码
  • 4.2 灵敏放大器
  • 4.3 带隙基准源
  • 4.4 电荷泵
  • 4.5 版图的验证与检查
  • 第五章 测试及改进的展望
  • 5.1 仿真结果
  • 5.2 存储器测试简介
  • 5.3 功能测试简介
  • 5.4 性能测试简介
  • 5.5 测试流程简介
  • 5.6 问题的查找和改进
  • 结束语
  • (1) 总结
  • (2) 展望
  • 研究生期间发表的论文
  • 参考文献
  • 致谢
  • 相关论文文献

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